科学家揭示超快退磁的微观机制,将有助力开发新型超快数据存储设备

IT猿人 2021-10-19

科学数据存储科普

822 字丨阅读本文需 3 分钟

磁性固体可以用短激光脉冲快速退磁,市场上已经有所谓的 HAMR(热辅助磁记录)存储器,是根据这一原理运作的。然而,超快退磁的微观机制仍不清楚。

现在,HZB 的一个团队在 BESSY II 开发了一种新方法来量化其中一种机制,并将其应用于稀土元素钆,其磁性是由 4f 和 5d 壳上的电子引起的。这项研究完成了该团队对镍和铁镍合金所做的一系列实验,了解这些机制对于开发超快数据存储设备非常有用。

图片显示了在测量过程中使样品保持恒定温度的发光灯丝。图片来源:© HZB

新材料应该使信息处理更加高效,例如,通过以较少能量输入存储数据的超快自旋电子设备。但迄今为止,超快退磁的微观机制尚不完全清楚。通常,通过向样品发送超短激光脉冲来研究退磁过程,从而将其加热,然后分析系统在此后的前几皮秒内如何演变。

晶格条件的快照

“我们的方法不同,”该研究的主要作者雷吉斯·德克尔博士解释说:“在光谱采集过程中,我们将样品保持在某个温度。我们在许多温度下都这样做,对于 Gd,从 -120°C 到 450°C——对于之前使用 Ni 和 FeNi 的实验,温度要高得多(1000°C)。这使我们能够量化每个温度下声子对超快退磁的影响,其中晶格、电子和自旋子系统的温度随时间变化。换句话说,通过将系统置于特定温度,我们进行了捕获超短激光脉冲后给定时间的晶格条件,我们在那里进行测量。”

检测钆

元素钆具有 4f 和 5d 电子轨道,这两者都有助于其铁磁特性。温度越高,结晶样品振动得越多。正如物理学家所说——声子的数量增加得越多,由于电子与来自晶格的声子的散射,自旋翻转就越有可能发生。

散射率区分

使用非弹性 X 射线散射 (RIXS) 方法,物理学家不仅能够确定给定温度下的声子数量,还能够区分声子与 4f 和 5d 电子之间的相互作用。使用严格的 X 射线光谱对称选择规则,评估成功区分了 4f 和 5d 电子的散射率。

5d 电子与声子相互作用

数据表明,局域化的 4f 电子和声子之间几乎没有任何散射,但大部分散射过程发生在 5d 电子和声子之间,因此自旋翻转只发生在那里。

“我们的方法证明,已知是超快退磁的主要触发因素之一的电子-声子散射仅适用于 5d 电子。有趣的是,它还表明存在温度阈值,这取决于材料,低于此值就不会发生这种机制。这表明在较低温度下存在另一种微观机制,正如理论所预测的那样,”德克尔解释说。

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